IEC 62321是国际电工委员会(IEC)制定的关于电子电气产品中限用有害物质的测试方法。IEC 62321：2008是一个‘独立’的标准，其中包括介绍、测试方法、机械制样的概述、以及各种测试方法的条款。2013年5月17号开始将IEC 62321：2008拆分为一系列标准，同时导入新的测试方法或仪器，详情如下。

已更新系列标准

2013年

nIEC 62321-1 简介和概述

文件说明：替代2008版标准一至四章节

主要变化：基本一致

nIEC 62321-2 样品的拆卸、拆解和机械拆分

文件说明：替代2008版标准第五章节

主要变化：基本一致

nIEC 62321-3-1 电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴的筛选

文件说明：替代2008版标准第六章节

主要变化：基本一致

nIEC 62321-3-2 使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选

文件说明：新增章节

主要变化：2013版增加了新的方法（C-IC）

nIEC 62321-4 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞

文件说明：替代2008版标准第七章节并新增内容

主要变化：2013版增加了新的方法（热解析金汞齐化系统）

nIEC 62321-5 使用AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物和电子材料中的汞、镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅

文件说明：替代2008版标准八至十章节并新增内容

主要变化：2013版增加了总铬的测试要求及新的检测方法（AFS）

2015年

nIEC 62321-6 使用GC-MS、IAMS和HPLC测定聚合物和电子材料中的多溴联苯 和多溴二苯醚

文件说明：替代2008版标准附录A并新增内容

主要变化：2015版增加了新的检测方法（IAMS/HPLC）

nIEC 62321-7-1 通过比色法测定金属无色和有色防腐镀层中六价铬

文件说明：替代2008版标准附录B

主要变化：关于六价铬的前处理及上机测试部分未做改动，对结果的阴性阳性判定基准改为小于0.1µg/cm2阴性、大于0.13µg/cm2阳性、0.1µg/cm2~0.13µg/cm2不确定

待发布系列标准

2016年

nIEC 62321-4 am1 1.0

使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞

nIEC 62321-8 1.0

通过GC-MS测定高分子材料中的特定邻苯二甲酸盐

2017年

nIEC 62321-7-2 1.0

通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铬

nIEC 62321-9 1.0

通过HPLC-MS测定高分子材料中的六溴环十二烷

2018年

nIEC 62321-3-2 2.0

使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、溴、氯进行筛选

nIEC 62321-3-3 1.0

使用PY-GC-MS、TD-GC-MS对聚合物中的多溴联苯、多溴二苯醚、特定邻苯二甲酸盐进行筛选

nIEC 62321-10 1.0

通过GC-MS测定聚合物和电子材料中的多环芳烃

注: 

C-IC 燃烧离子色谱法    

PY-GC-MS 热裂解气相色谱质谱联用仪

IAMS 离子附着质谱法                 

TD-GC-MS 热脱附气相色谱质谱联用仪